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  • FeRAM鐵電随機存儲器測試儀
    FeRAM鐵電随機存儲器測試儀 内存窗(chuāng)口信息是基于對(duì)器件*集成後進行模拟電滞回線測量後得(de)出的(de)。應用(yòng)領域:鐵電存儲器的(de)生産生産過程中的(de)質量控制,以便不會影(yǐng)響到CMOS生産過程在MHz的(de)操作速度下(xià),單級電滞回線數據優點:生産過程的(de)工藝優...
  • 鐵電遲豫電流測試儀 aixPES-RX
    鐵電遲豫電流測試儀 aixPES-RX 本設備主要用(yòng)來(lái)研究電子陶瓷材料的(de)遲豫性能,也(yě)就是介電體和(hé)鐵電材料的(de)極化(huà)和(hé)去極化(huà)電流的(de),即施加電壓階躍後的(de)電流響應。該測試能将材料的(de)馳豫電流和(hé)漏電流分(fēn)開,并可(kě)記錄極化(huà)響應電流和(hé)去極化(huà)響應電流。技術說明(míng):
  • 雙光(guāng)束激光(guāng)幹涉儀 aixDBLI
    雙光(guāng)束激光(guāng)幹涉儀 aixDBLI 雙光(guāng)束激光(guāng)幹涉儀專門用(yòng)于壓電薄膜的(de)蝴蝶曲線和(hé)縱向壓電系數d33的(de)測試。這(zhè)一台适合于從小尺寸薄膜到8英寸晶圓表征的(de)雙光(guāng)束激光(guāng)幹涉儀。半自動的(de)系統用(yòng)于8“晶圓上的(de)MEMS器件的(de)壓電性和(hé)電性相關性能的(de)測試。...
  • 熱(rè)釋電性能測試儀 aixPYM
    熱(rè)釋電性能測試儀 aixPYM 熱(rè)釋電性能測試儀 aixPYM(Pyroelectric Measurement)本系統主要用(yòng)于薄膜及塊體材料變溫的(de)熱(rè)釋電性能測試。薄膜材料變溫範圍:-196℃到+600℃;塊體材料變溫範圍:室溫到2...
  • 熱(rè)激發極化(huà)電流測試儀 TSDC
    熱(rè)激發極化(huà)電流測試儀 TSDC 熱(rè)激發極化(huà)電流測試儀 TSDC(Thermally Stimulated Depolarization Current Measurement)本系統除了(le)可(kě)以測試材料的(de)鐵電、壓電、熱(rè)釋電性能外,還(hái)可(kě)以...
  • 熱(rè)電性能測試儀 COMTESSE
    熱(rè)電性能測試儀 COMTESSE 熱(rè)電性能測試儀 COMTESSE(Thermoelectric Measurement)本系統主要用(yòng)于熱(rè)電性能測試。包括:熱(rè)導率thermal conductivity, 電導率electrical ...
  • 機電薄膜e31測試儀 aix4PB
    機電薄膜e31測試儀 aix4PB 機電薄膜e31測試儀 aix4PB(Electromechanical thin film e31 analyzer )薄膜材料的(de)機電性能是MEMS器件設計的(de)關鍵性能,縱向壓電系數d33和(hé)橫向壓電系數...
  • 高(gāo)溫塊體壓電分(fēn)析儀 aixPES-600/800
    高(gāo)溫塊體壓電分(fēn)析儀 aixPES-600/800 高(gāo)溫塊體壓電分(fēn)析儀 aixPES-600/800本系統主要用(yòng)于高(gāo)溫下(xià)的(de)壓電塊體陶瓷樣品的(de)全面電性能和(hé)機電性能的(de)表征。壓電測試溫度可(kě)以達到室溫到600℃或室溫到800℃兩種溫度範圍。大(dà)信号和(hé)小信号材料的(de)...
  • 多(duō)鐵材料磁電磁阻測試儀 aixPES-MR
    多(duō)鐵材料磁電磁阻測試儀 aixPES-MR 多(duō)鐵材料磁電磁阻測試儀 aixPES-MR(MagnetoResistive Measurement)本系統主要用(yòng)于研究磁阻和(hé)鐵性材料。本系統提供連續電流激勵和(hé)測試,樣品上的(de)電壓降通(tōng)過高(gāo)精度四點測試。
  • 電卡效應測試儀 ECM (ElectroCalori
    電卡效應測試儀 ECM (ElectroCalori 電卡效應測試儀 ECM(ElectroCaloric Measurement)本系統除了(le)可(kě)以測試材料的(de)鐵電、壓電、熱(rè)釋電性能外,還(hái)可(kě)以用(yòng)于測試材料在寬溫度範圍内的(de)電卡性能。電卡測試性能參數:溫度範圍:...
  • 低溫塊體壓電分(fēn)析儀 aixPES-Cryo
    低溫塊體壓電分(fēn)析儀 aixPES-Cryo 低溫塊體壓電分(fēn)析儀 aixPES-Cryo本系統主要用(yòng)于高(gāo)低溫下(xià)的(de)壓電塊體陶瓷樣品的(de)全面電性能和(hé)機電性能的(de)表征。壓電測試溫度可(kě)以達到-100℃到+600℃。大(dà)信号和(hé)小信号材料的(de)特征可(kě)以在一定溫度範圍内...
  • SYGQ-200型便攜式石英玻璃管切割器
    SYGQ-200型便攜式石英玻璃管切割器 SYGQ-200型便攜式石英玻璃管切割器
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